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Scheda sonda MEMS

Le schede sonda MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems) svolgono un ruolo chiave nei moderni test dei semiconduttori, fornendo contatti di test precisi attraverso sistemi elettromeccanici miniaturizzati per garantire una valutazione accurata delle prestazioni del chip. Le nostre schede sonda MEMS combinano la tecnologia avanzata di micro-nanolavorazione con un design elettrico di precisione per fornire soluzioni altamente affidabili e precise per un'ampia gamma di esigenze di test dei chip.

Schede sonda MEMS avanzate per test sui wafer

Scheda sonda MEMS per test wafer CIS

La nostra scheda sonda MEMS per test wafer CIS (sensore di immagine CMOS) utilizza la tecnologia MEMS 2D avanzata per testare i prodotti CIS. Migliaia di sonde MEMS sono saldate al laser su un substrato ceramico, fornendo un'eccezionale distribuzione della sonda ad alta densità con un intervento manuale minimo.

Scheda sonda MEMS per test wafer DRAM

La nostra scheda sonda MEMS per test di wafer DRAM, ottimizzata con la tecnologia MEMSFLEX, soddisfa le esigenze di test di questi nuovi dispositivi DRAM ad alte prestazioni e ad alta densità. Migliora l'efficienza e riduce il costo complessivo dei test DRAM, garantendo prestazioni affidabili nella valutazione degli ultimi progressi nella tecnologia della memoria.

Caratteristiche della scheda sonda MEMS

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